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應(yīng)用材料公司發(fā)布SEMVision G7
- 應(yīng)用材料公司今日發(fā)布了其市場(chǎng)領(lǐng)先的SEMVision?系列缺陷檢測(cè)和分類技術(shù)最新產(chǎn)品,助力尖端存儲(chǔ)和邏輯芯片的制造商提升生產(chǎn)力。最新的SEMVision G7系統(tǒng),是目前市面上唯一具有高分辨率缺陷成像,以及經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證、具有先進(jìn)機(jī)器學(xué)習(xí)智能的DR-SEM*系統(tǒng)。它有助于芯片制造商更快對(duì)缺陷進(jìn)行分類,找出根本原因并解決良率問題?! 坝捎趯⑷遮厪?fù)雜的新設(shè)計(jì)投入生產(chǎn)的難度越來越大,芯片制造商正在尋找加快產(chǎn)品面市和實(shí)現(xiàn)最優(yōu)良率的方法?!睉?yīng)用材料公司副總裁兼工藝診斷及控制事業(yè)部總經(jīng)理Ofer 
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